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如何校准硅酸根测定仪?

发布日期:2021-05-17        访问次数:1683


硅酸根测定仪校准项目
(1)外观检查;(2)绝缘电阻(首检);(3)分析仪示值误差;(4)分析仪重复性;(5)分析仪零点漂移;(6)分析仪量程漂移
硅酸根测定仪校准的项目指标
(1)示值误差校准(用引用误差)
在SiO2含量为0~50 u g / mL的范围内,示值误差不大于其量程的2.0%在SiO2含量为0~200 u g / mL的范围内,示值误差不大于其量程的2.5%。
(2)分析仪重复性的校准(用多次测量的标准偏差表示)分析仪重复性测量的标准偏差不大于1.5%。
(3)分析仪零点漂移的校准:在15min内应不超过1.0 u g / mL。
(4)分析仪量程漂移的校准:在15min内应不超过2.0 u g / mL。

 

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